原理科普
INFRARED KNOWLEDGE2022-02-23 09:17:22
热像仪也是一种温度测量仪器,它利用红外热成像的原理吸收目标物体热辐射的能力产生红外图像,可以帮助我们看到肉眼看不见的东西。可产生红外图像或热辐射图像,并能提供准确的非接触式红外测温。
因此,红外热像仪在许多领域都是一种经济的检测工具。使用红外热像仪时,可能会出现红外图像模糊和噪点,这是由红外机芯里面的传感器(红外焦平面探测器)上的坏点引起的。
一、什么是坏点呢?
红外焦平面探测器上的像素点有问题和缺陷,视频监控屏幕上呈现黑色或白色,称为坏点。
二、造成坏点的原因。
红外探测器上每个采光点形成的阵列过程存在缺陷,或者在光信号转换过程中出现错误,会导致图像上一些像素的信息错误,导致图像中的像素值不准确。这些有缺陷的像素是图像的缺陷。
由于不同的技术和传感器制造商,特别是对于一些低成本和消费品的红外传感器,会有很多不好的点。
此外,红外机芯在长期和高温环境下使用,造成红外探测器上会有越来越多的不良点,从而破坏红外热成像的清晰度和完整性以及红外测温的准确性。
三、坏点分类。
1.静态缺点。
亮点:一般来说,像素点的亮度值与入射光成正比,亮点的亮度值明显大于入射光乘以相应的比例,随着曝光时间的增加,该点的亮度显着增加
暗点:无论在什么样的入射光下,该点的值接近0
2.动态坏点。
在一定像素范围内,该点表现正常,超过该范围,该点表现比周围像素明亮。与红外传感器的温度、增益有关,当红外传感器的温度上升或增益值上升时,动态的坏点会变得更加明显。
四、坏点校正。
1.修正静态坏处。
静态坏点的校正是基于现有的静态坏点表,比较当前点的坐标是否与静态坏点表中的某个坐标一致,如果一致,则判坏点,然后计算校正结果进行校正。
由于硬件设计需要占用大量存储器,考虑到芯片面积等原因,静态缺陷有大小限制,不能无限制地校正。
一旦红外探测器的静态坏点表写入存储,数据处理中心模块将自动替换坏点表中显示的坏点。
2.动态坏点校正。
动态坏点的校正可以实时检测和校正传感器的亮点和暗点,校正的坏点数量不受限制。动态坏点校正相对态坏点校正更不确定。
动态数据处理中心可分为两个步骤:坏点检测和坏点校正。
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